基于智能计算筛选二维范德华栅介质材料的方法

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基于智能计算筛选二维范德华栅介质材料的方法
申请号:CN202510977356
申请日期:2025-07-16
公开号:CN120877953A
公开日期:2025-10-31
类型:发明专利
摘要
本发明提供基于智能计算筛选二维范德华栅介质材料的方法,涉及计算材料科学、人工智能和二维半导体器件交叉技术领域。基于智能计算筛选二维范德华栅介质材料的方法,具体操作步骤如下:S1.建立候选材料数据库;S2.对选材料库中的二维材料进行计算,获取本征特征;S3.构建筛选二维栅介质材料的关键指标;S4.建立机器学习模型,对已知二维介质样本数据进行训练;S5.异质结构建模与界面效应评估;S6.多目标决策与排序输出。通过该方法,研究人员可快速在大规模二维材料数据库中识别出具备合适电子绝缘性、介电特性和界面稳定性的栅介质候选,从而缩短材料研发周期,降低计算资源消耗,提升器件设计的前瞻性和可靠性。
技术关键词
栅介质材料 二维材料 材料数据库 异质结构 二维半导体器件 机器学习模型 二维半导体材料 监督学习算法 界面态密度 载流子迁移率 势垒高度 沟道材料 效应 带隙 指标 决策 样本
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