一种芯片测试方法、设备、介质及程序产品

本发明公开了一种芯片测试方法、设备、介质及程序产品，涉及芯片测试领域。芯片测试方法，包括：基于芯片硬件模块、芯片硬件模块的目标触发器以及与目标触发器匹配的目标标记字段，生成待解析RBM；根据目标触发器对应的层次结构关联信息，对待解析RBM分段，得到各芯片硬件模块代码段；根据各芯片硬件模块代码段，创建系统全模块索引表，以基于系统全模块索引表以及菊花链技术进行代码测试。本发明实施例的技术方案能够准确识别所需分析模块，在RBM中的位置及对应代码行数，大大提升调试处理效率。