深硅通孔制备方法、集成芯片制备方法及集成芯片

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深硅通孔制备方法、集成芯片制备方法及集成芯片
申请号:CN202510986160
申请日期:2025-07-17
公开号:CN120854380A
公开日期:2025-10-28
类型:发明专利
摘要
本申请公开了一种深硅通孔制备方法、集成芯片制备方法及集成芯片,涉及半导体制造技术领域。该深硅通孔制备方法包括:在晶圆的硅中介层上表面沉积氧化硅以形成氧化硅薄膜;在氧化硅薄膜上表面涂覆光刻胶,通过预设的通孔掩膜对光刻胶进行曝光显影以露出通孔区域;在刻蚀工艺腔内通过干法刻蚀工艺刻蚀通孔区域的氧化硅薄膜和硅中介层以形成深硅通孔;在刻蚀工艺腔内通过干法刻蚀工艺去除剩余的光刻胶和氧化硅薄膜。通过上述技术手段,在刻蚀通孔后直接在刻蚀工艺腔内采用干法刻蚀工艺去除光刻胶和氧化硅薄膜,无需转移晶圆到其他工艺台,简化了深硅通孔的制备工艺流程,提高了深硅通孔的制备效率。
技术关键词
干法刻蚀工艺 氧化硅 集成芯片 通孔掩膜 薄膜 涂覆光刻胶 刻蚀通孔 三氟化氮 三氟甲烷 氦气 二氟甲烷 电极 氟化碳 气体 氧气 腔体
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