一种基于多源光谱感知的绝缘子污秽程度检测方法和系统

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一种基于多源光谱感知的绝缘子污秽程度检测方法和系统
申请号:CN202510990078
申请日期:2025-07-18
公开号:CN120495303B
公开日期:2025-10-31
类型:发明专利
摘要
本申请提供涉及多源光谱感知技术领域,提供一种基于多源光谱感知的绝缘子污秽程度检测方法和系统,其中,该方法包括:获取绝缘子多个焦距下的光谱图像数据和绝缘子表面的散射光谱数据;从光谱图像数据中提取出污秽层厚度信息;融合污秽层厚度信息和散射光谱数据,将融合结果输入图神经网络,通过图神经网络确定位置单元之间的空间关联关系,其中位置单元对应于绝缘子的空间分区区域;根据空间关联关系,生成绝缘子的三维污秽分布数据,以解决现有技术中绝缘子污秽检测的空间分辨率低和准确度低的问题,提升了绝缘子污秽检测的空间分辨率和准确度。
技术关键词
绝缘子污秽程度 层厚度 线性插值方法 图像 数据 存储组件 关系 参数 因子 计算机存储介质 分区 物理 分辨率 空间结构 三维模型 焦点
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