用于仿真集成电路芯片的仿真方法和仿真装置

本申请涉及用于仿真集成电路芯片的仿真方法和仿真装置。基于本申请的实施例，对于包括命令处理器和多个内核分区的集成电路芯片，可以通过调用多个软件模块中对应命令处理器的前端模块组，检测多个软件模块中分别对应多个内核分区的多个内核模块组的当前任务状态。从而，通过调用前端模块组检测到的多个内核模块组的当前任务状态，可以直接跳过对没有待处理数据的整组内核模块可能发起的调用，从而能够以内核模块组为粒度省去对没有待处理数据的内核模块的无效调用，从而，有助于通过减少对软件模块的无效调用来缩短对集成电路芯片的软件仿真耗时。