一种加快全芯片时序纹理修复速度的方法

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一种加快全芯片时序纹理修复速度的方法
申请号:CN202510991268
申请日期:2025-07-18
公开号:CN120872666A
公开日期:2025-10-31
类型:发明专利
摘要
本发明属于集成电路时序收敛技术领域,尤其涉及一种加快全芯片时序纹理修复速度的方法,包括以下步骤:步骤1,顶层和模块同时修复时序违例,并保证各自修复的时序违例路径没有重复;步骤2,顶层修复所有时序违例路径,并验证有效性,同时将修复的时序违例路径转化为模块层级脚本;步骤3,模块在后端实现工具中读入相应脚本,顶层验证是否满足时序核签要求,若不满足继续从步骤2到步骤3进行多次迭代,直到满足时序核签要求。本发明能够加速全芯片时序违例修复。
技术关键词
修复时序违例 脚本 逻辑 情景 芯片 模块 收敛技术 报告 数值 层级 有效性 纹理 集成电路 关键字 缓冲器 接口 速度 命令 参数
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