一种电子产品测试数据处理的方法及系统

本发明涉及产品测试技术领域，具体为一种电子产品测试数据处理的方法及系统，包括：基于多源传感器阵列对电子产品进行多模态测试数据采集，以得到多模态测试数据；对所述多模态测试数据进行时空对齐与数据融合处理，以得到时空关联测试数据集；基于所述时空关联测试数据集构建三维特征空间，以得到综合测试数据集；基于测试阶段特性对所述综合测试数据集进行动态阈值分段，以将所述综合测试数据集划分为瞬态响应序列与稳态运行序列。本发明通过多源传感器阵列同步采集数据，确保测试覆盖电子产品的多维性能指标，例如，电性能参数反映功能状态，热成像数据揭示散热缺陷，振动频谱捕捉机械结构异常，环境数据关联外部干扰因素。