一种基于轻量化多尺度特征融合的SOP缺陷检测方法

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一种基于轻量化多尺度特征融合的SOP缺陷检测方法
申请号:CN202511000688
申请日期:2025-07-21
公开号:CN120953184A
公开日期:2025-11-14
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于轻量化多尺度特征融合的SOP缺陷检测方法,具体为:获取SOP缺陷图像,对缺陷图像进行标注;基于YOLOv8n提出YOLO‑DBS模型;将DCFB模块替换骨干网路中的C2f模块,设计高效的多尺度特征融合金字塔网络BiFPN,在检测头的输入层添加SENetV2模块;采用SOP封装芯片表面缺陷图像训练集对改进后的算法模型进行训练;将缺陷图像测试集传入训练好的模型中,记录检测结果并评价模型性能。本发明方法在保持高检测精度的同时,实现了精度和模型复杂度之间的平衡。
技术关键词
多尺度特征融合 缺陷检测方法 表面缺陷图像 网络结构 模块 封装芯片 金字塔网络 双向特征金字塔 算法模型 上采样 通道注意力机制 生成高分辨率 综合评价指标 多分支结构 特征提取能力 全局平均池化 空间金字塔
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