一种金属薄膜沉积方法及金属薄膜

AITNT
正文
推荐专利
一种金属薄膜沉积方法及金属薄膜
申请号:CN202511004506
申请日期:2025-07-21
公开号:CN120924910A
公开日期:2025-11-11
类型:发明专利
摘要
本发明涉及量子芯片制造技术领域,尤其涉及一种金属薄膜沉积方法及产物。包括:包括:S1、提供衬底;S2、对所述衬底依次进行金属沉积处理和熟化处理,在所述衬底表面获得目标厚度的金属薄膜。本发明解决了目前传统的电子束蒸镀法沉积方法制备金属薄膜时结晶质量差的技术问题,克服了晶畴尺寸小、晶界缺陷密度高的结晶缺陷,采用依次进行金属沉积、熟化处理的制备方式,促使不稳定的成核位点通过扩散作用合并形成稳定原子团,进而提升了金属薄膜的质量。本发明所得金属薄膜产物质量高,且易于实施,可操作性强,具有广阔的应用前景。
技术关键词
金属薄膜沉积方法 金属沉积 电子束蒸镀法 衬底 惰性气体氛围 周期 金属薄膜厚度 沉积金属薄膜 晶界缺陷 速度 量子芯片 上沉积 原子团 结晶 保温 位点 密度 尺寸
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号