测试过程中校准芯片的方法、系统、计算机设备与介质

本申请涉及集成电路测试技术领域，提供了一种测试过程中校准芯片的方法、系统、计算机设备与介质，其中方法包括：获取基准芯片的基准输出值与第一实际输出值；根据基准输出值与第一实际输出值确定校准系数；获取测试芯片的第二实际输出值；根据校准系数与第二实际输出值确定测试芯片的校准输出值；将校准输出值作为测试芯片的测试结果。方案中，通过获取基准芯片在理想条件下的基准输出值与当前测试系统下的实际输出值，计算出反映测试系统综合误差的校准系数，并将该系数实时应用于测试芯片的实际输出值进行补偿，有效抑制了测试硬件长期漂移以及环境干扰引入的系统误差，从而提高了芯片测试结果的准确性与可靠性。