测试方法、电子设备和存储介质

AITNT
正文
推荐专利
测试方法、电子设备和存储介质
申请号:CN202511007688
申请日期:2025-07-22
公开号:CN120523742B
公开日期:2025-10-10
类型:发明专利
摘要
本发明提供了一种测试方法、电子设备和存储介质,可以应用于自动化测试技术领域。该测试方法包括:响应于来自测试设备的测试请求,根据测试请求中测试任务的标识,将多个预设镜像中与测试任务相对应的目标镜像部署到待测设备;在通过设置于测试设备的控制界面建立测试设备与待测设备之间通信连接的情况下,响应于经由控制界面对目标测试用例的选择操作,将目标测试用例的测试脚本发送到待测设备,以便待测设备执行测试脚本,得到测试日志,目标测试用例包括测试设备执行测试任务所需的测试流程和预期测试结果。
技术关键词
待测设备 镜像 脚本 测试工具 测试设备执行 指令组 标签 测试方法 日志 自动化测试技术 电子设备 智能模型 界面 标识 报告 异常信息 处理器 容器
系统为您推荐了相关专利信息
1
面向大模型预训练和RAG技术的语料批量标注方法及系统
模型预训练 标注方法 批量 大语言模型 语义
2
一种面向公网的全域威胁感知方法及系统
威胁感知方法 公网 威胁感知系统 信誉机制 溯源技术
3
基于CAN总线UDS诊断服务的MCU在线升级方法
在线升级方法 UDS协议 车辆工程技术 硬件看门狗 循环冗余校验
4
一种利用报文时间戳测量网络时延的方法及装置
测试设备 人机交互模块 待测设备 网口 报文
5
异响定位系统、方法及电子设备
应力检测模块 光纤光栅串 光纤光栅解调仪 定位系统 反射光
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号