芯片验证方法、装置、电子设备和存储介质

本发明提供一种芯片验证方法、装置、电子设备和存储介质，涉及芯片设计制造技术领域，包括：将当前激励发送至设计验证模块，得到所述设计验证模块输出的第一结果，同时将所述当前激励和所述当前激励的延迟触发时间发送至参考模型模块，得到所述参考模型模块输出的第二结果；对比所述第一结果和所述第二结果，确定待验证芯片的功能验证结果；其中，所述设计验证模块用于运行待验证芯片的寄存器传输级代码；所述参考模型模块用于运行所述待验证芯片的参考模型；所述延迟触发时间是基于所述设计验证模块预处理所述当前激励的时间确定的。本发明提供的方法和装置，实现了对芯片处理时钟相关激励的功能正确性进行验证，提高了验证效率。