一种芯片植球智能化检测装置

本发明涉及芯片测试技术领域，具体公开了一种芯片植球智能化检测装置，包括固定箱和保护箱，所述固定箱和所述保护箱上均设置有夹持装置，所述固定箱位于所述保护箱一端，所述保护箱另一端设置有尾板，所述尾板上固定连接有防护架,所述防护架与所述固定箱可拆卸连接；所述固定箱内设置有用于检测芯片的振动机构，所述振动机构包括有驱动杆,所述驱动杆上设置有若干组配合组件；所述固定箱与所述保护箱之间设置有用于安装所述配合组件的安装机构。解决了现有的芯片振动测试装置在对芯片进行检测时，在同一时间只能对一组芯片进行测试，从而使得芯片检测的效率低的技术问题。