一种基于光栅成像与微相移3D的锡膏印刷检测系统及方法

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一种基于光栅成像与微相移3D的锡膏印刷检测系统及方法
申请号:CN202511012119
申请日期:2025-07-22
公开号:CN120927703A
公开日期:2025-11-11
类型:发明专利
摘要
本发明涉及电子制造质量检测技术领域,尤其是涉及一种基于光栅成像与微相移3D的锡膏印刷检测系统,包括微相移3DAOI模块和光栅成像SPI模块,所述微相移3DAOI模块和光栅成像SPI模块均集成于控制器上,并通过工业以太网数据接口实现检测数据交互;光栅成像SPI模块包括光栅投射单元、高度计算单元、自动基准标定单元和缺陷识别单元;微相移3DAOI模块包括MDMC照明单元、微相移成像单元、AI处理单元和结果输出单元。本发明通过微相移3DAOI模块与光栅成像SPI模块的协同工作及数据交互,实现了锡膏印刷质量的高精度、智能化检测,尤其在锡膏溢出等复杂场景下仍能准确识别基准,从而显著提升了锡膏印刷检测的精度、效率与一致性。
技术关键词
印刷检测系统 印刷检测方法 相位解包裹算法 成像单元 正弦条纹光栅 压电陶瓷促动器 照明单元 半导体激光器 扫描算法 基准 处理单元 识别算法 模块 RANSAC算法 3D点云数据 相机 颜色
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