嵌入式闪存芯片的自动化测试方法、装置、设备和介质

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嵌入式闪存芯片的自动化测试方法、装置、设备和介质
申请号:CN202511023126
申请日期:2025-07-24
公开号:CN121034380A
公开日期:2025-11-28
类型:发明专利
摘要
本发明提出了嵌入式闪存芯片的自动化测试方法、装置、设备和介质,应用于包括通信连接的主机端和多个待测设备的测试平台,待测设备安装有嵌入式闪存芯片和显示屏,嵌入式闪存芯片为eMMc或ufs,该方法包括:全部待测设备安装基于服务器生成的测试指令下发的测试软件;主机端基于测试指令生成模拟点击指令并发送至全部待测设备;基于任一待测设备,基于模拟点击指令点击测试软件,测试软件在待测设备上执行多次性能测试生成多个测试数据组并返回至主机端;主机端获取任一待测设备的全部测试数据组并依次与预设条件进行对比得到多个对比结果并生成测试结果。根据本发明实施例的技术方案,能够自动对嵌入式闪存芯片进行性能测试,提高测试效率。
技术关键词
待测设备 嵌入式闪存 自动化测试方法 微型计算机 主机端 微型计算器 芯片 自动化测试装置 计算机可执行指令 测试平台 服务器 生成表格 显示屏 格式 图片 可读存储介质 处理器
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