基于TVS管的芯片测试保护系统与芯片校准系统

本申请涉及集成电路测试技术领域，提供了一种基于TVS管的芯片测试保护系统与芯片校准系统，其中测试保护系统包括：TVS管，连接于被测芯片的管脚与地之间；动态控制模块，连接于TVS管与测试信号源之间，配置为根据测试信号源的电压变化率控制TVS管的导通或截止；其中，当TVS管的两端电压超过其击穿电压时，TVS管反向击穿导通形成低阻抗通路，将被测芯片的管脚电压钳位在安全范围内，当TVS管的两端电压小于其击穿电压时，TVS管反向截止。方案中，动态控制模块根据测试信号源的电压变化率调控TVS管的状态，确保在电压突变时快速导通TVS管，及时触发保护，这种主动响应机制避免了压敏电阻依赖被动响应的滞后问题，提高了测试保护系统的及时性与安全性。