基于双向激励弱磁检测装置的裂纹走向判定方法

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基于双向激励弱磁检测装置的裂纹走向判定方法
申请号:CN202511030066
申请日期:2025-07-25
公开号:CN120522271B
公开日期:2025-09-16
类型:发明专利
摘要
本发明公开的一种基于双向激励弱磁检测装置的裂纹走向判定方法,属于无损检测技术领域。包括探头和上位机;探头包括激励模块、信号采集处理模块、屏蔽罩和壳体;激励模块由十字型磁轭和激励线圈组成,信号采集处理模块由电路板一和电路板二组成,电路板一上布置有磁传感器阵列;激励模块、信号采集处理模块和屏蔽罩均布置在壳体内。裂纹走向判定方法,包括:(1)获取三向磁场信号分布情况;(2)根据磁场信号畸变情况定位裂纹;(3)根据磁场信号的相对位置关系和计算公式判定裂纹走向。本发明的目的在于对构件进行双向激励磁化,强化缺陷信号,实现任意方向的表面和内部裂纹走向检测。
技术关键词
判定方法 电路板 探头 磁传感器阵列 电源转换芯片 模块 无损检测技术 线圈 信号放大器 待测工件 裂纹缺陷 转换器 非金属材料 壳体 曲线
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