一种芯片的测试方法、测试子板及测试设备

本发明公开了一种芯片的测试方法、测试子板及测试设备，涉及测试领域，包括应用于测试设备的测试子板上的控制器，测试设备还包括测试母板，每个测试母板上设置有多个测试子板，各个测试子板之间独立，测试子板用于放置待测芯片，测试母板与上位机连接；芯片的测试方法，包括：通过测试母板获取上位机发送的测试需求；基于测试需求，对自身上放置的待测芯片进行测试；在测试的过程中，选择预设时间段采集待测芯片的测试结果；将测试结果通过测试母板发送至上位机。各个测试子板可以独立的进行测试工作，上位机只需要将测试需求通过测试母板发送至测试子板即可同时进行多个待测芯片的测试，测试过程更加方便快捷，提高了测试的效率。