一种固态存储芯片质量测试方法及系统

本申请涉及芯片质量测试技术领域，具体涉及一种固态存储芯片质量测试方法及系统，方法包括获取固态存储芯片的目标应用场景对应的多维环境参数；从预设的场景环境数据库中筛选出目标环境参数，并获取目标环境参数对应的标准质量测试条件；生成参数差异调整强度，根据所述参数差异调整强度对所述标准质量测试条件做比例调整处理，并生成耦合环境测试条件；获取质量测试监测数据，并根据所述质量测试监测数据生成质量测试结果。本申请解决现有技术中传统测试通用性强但针对性不足的问题，通过更加精准地通过针对性的质量测试发现固态存储芯片在目标应用场景下的潜在缺陷，极大提升了质量评估的科学性和实用价值。