条形激光器芯片光学灾变损伤的检测方法与系统

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条形激光器芯片光学灾变损伤的检测方法与系统
申请号:CN202511042240
申请日期:2025-07-28
公开号:CN120869976A
公开日期:2025-10-31
类型:发明专利
摘要
一种条形激光器芯片光学灾变损伤的检测方法与系统,包括采集单元、检测网络单元、检测处理单元、失效分析单元、以及显示单元,首先通过所述检测系统完成图像的获取,然后经过图像的预处理过程,接着将预处理之后的图像输入到检测网络结构的检测算法中,最后输出检测结果,并对被检样品进行分析处理,本发明通过与探针台、光学显微镜、工业相机、电脑等硬件相连构成完整的条形激光器芯片光学灾变损伤检测平台的技术解决方案。
技术关键词
激光器芯片 多尺度特征融合 解码器架构 采集单元 编码器结构 网络单元 探针台 分析单元 处理单元 图像 网络结构 解码器结构 光学显微镜 注意力 模块
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