摘要
本发明属于半导体技术领域,提供了一种铟阵列内单铟球去除方法及系统,方法包括:模糊定位、高度数据测量、最终电路厚度数据计算、原始读出电路固定、十字叉丝对齐、下降高度信息计算、抽真空及加热、钨铂合金冷针穿刺、目标异常铟球剔除以及冷却及加压;本发明通过定位、加热、冷抽取的方式将读出电路阵列内单个铟球去除,避免了读出电路报废、光敏层裂开情况的发生,提高了读出电路的利用率和大面阵器件的成品率,降低了成本。
技术关键词
碳化硅基板
读出电路
夹具平台
激光共聚焦显微镜
十字叉丝
防静电组件
真空腔
数据
聚焦设备
机械臂
合金
阵列
接触式测厚仪
10倍物镜
步进电机
金相显微镜
减速器
镜头
加热