引晶阶段的监控方法、系统、存储介质及单晶产品制造方法

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引晶阶段的监控方法、系统、存储介质及单晶产品制造方法
申请号:CN202511053745
申请日期:2025-07-29
公开号:CN120967493A
公开日期:2025-11-18
类型:发明专利
摘要
本发明涉及单晶制备技术领域,尤其是涉及一种引晶阶段的监控方法、系统、存储介质、单晶产品制造方法及单晶产品,应用引晶阶段的监控方法,利用工业相机采集图像后,结合计算机机器视觉系统或图像识别技术判断引晶过程中的图像变化,通过图像判断模型以每一个监控图像为单位统计并分析异常情况,对累计异常情况进行合理分析,从而输出值得被注意到的警告,实现自动监控引晶过程;通过准确识别并输出晶体结构变化信号代替人工自动执行监控过程,能够有效提高单晶生产过程异常情况识别准确率,减少或消除人员过程巡检浪费及主观上的不统一性。
技术关键词
监控方法 阶段 光圈 单晶 周期 计算机机器视觉 亮点 程序 机器学习技术 指标 图像识别技术 形态 亮度 工业相机 固液 结晶 籽晶 动态 频率
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