硅基发光器件寿命预测方法、装置、设备、介质和程序

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正文
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硅基发光器件寿命预测方法、装置、设备、介质和程序
申请号:CN202511060321
申请日期:2025-07-30
公开号:CN120948993A
公开日期:2025-11-14
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种硅基发光器件寿命预测方法、装置、设备、介质和程序,其中,该方法包括:获取待预测器件的运行状态数据,并获取所述待预测器件配置的预设寿命预测模型;基于所述预设寿命预测模型和所述运行状态数据确定所述待预测器件的器件寿命;其中,所述预设寿命预测模型至少包括加速因子与温度的对应关系。本发明实施例可基于温度效应对器件寿命的影响进行预测,可提升器件寿命预测精度。
技术关键词
寿命预测模型 寿命预测方法 硅基发光器件 亮度 器件结构 样本 数据 计算机程序产品 寿命预测装置 关系 时序 处理器 参数 因子 模板 可读存储介质 存储元件
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