一种光电子器件生产质量检测方法及系统

本发明公开了一种光电子器件生产质量检测方法及系统，涉及光电子器件生产检测技术领域，该系统通过高精度数据采集与多物理场耦合建模技术，实现了生产参数、环境感知参数及质量检测参数的全面整合与精准分析，采用光‑电‑热多物理场耦合模型，突破了传统单一场模拟的局限，结合加速仿真与短板量化技术，通过短板应力阈指数的动态设定、短板突出指数标注及重合次数分析，实现从单因素评估到多因素协同短板定位的跨越，通过量化评估多应力协同作用下的器件性能退化，高效、精准地定位光电子器件质量缺陷的主导因素，实现了对光电子器件的生产质量的精准分级。