一种用于serdes芯片性能控制参数寻优方法与装置

本发明提供一种用于serdes芯片性能控制参数寻优方法与装置，包括：设定serdes芯片中预设配置类型的所有配置参数的取值范围，按照各个配置参数以及各自对应的取值范围生成初始粒子群；将所述初始粒子群作为输入粒子群输入至第一轮迭代中；每轮迭代中包括：将输入粒子群中的每个微粒输入至对应的serdes芯片中，获取每个微粒对应的眼图，根据每个微粒对应的眼图得到每个微粒对应的目标值；获取输入粒子群中所有微粒中的最大目标值作为局部最优值，获取目前所有迭代轮次中目标值最大的局部最优值作为全局最优值；在满足终止条件后，得到serdes芯片的最优配置参数，提升了寻优效率以及信道补偿的性能。