用于电子元器件的光学测试功能高低温试验箱控制系统

本发明提供用于电子元器件的光学测试功能高低温试验箱控制系统，涉及光学测试技术领域，本发明通过双目标实时感知模块、核心温度前馈补偿、窗口畸变主动补偿、数据有效性甄别与自适应调度等创新技术，实现了高低温试验箱中电子元器件真实结温与环境温度的高度一致，实时抵消观测窗口波前像差，自动甄别并重测异常数据，通过基于高斯过程回归与热惯性模型博弈的动态温度点选择，将温控精度提升至±0.1℃、波前畸变残差降至λ/20，测试周期缩减30％以上，数据误判率低于1％，显著提升了测试精度、保真度与效率。