摘要
本发明涉及LED灯珠检测技术领域,公开了一种LED灯珠光效提升工艺控制方法及装置。该方法:监测LED芯片的电流变化率和温度变化率,并触发瞬态控制切换信号,启动光谱分析仪监测荧光粉发射光谱的红移量和强度变化,得到瞬态性能衰减数据;将瞬态性能衰减数据输入热猝灭动力学模型进行量子效率预测,得到荧光粉层的量子效率预测数据;对LED芯片的表面荧光粉浓度进行三维梯度分布分析,得到空间浓度分布方案;测量当前涂覆厚度与目标厚度的偏差并调节涂覆参数。本发明实现了瞬态工作条件下LED荧光粉层的动态优化控制,解决了传统静态工艺无法适应瞬态工作模式的技术难题,实现了LED灯珠在瞬态工作条件下的高性能输出。
技术关键词
工艺控制方法
瞬态工作条件
LED芯片表面
PID控制算法
光谱分析仪
数据
LED灯
工艺控制装置
涂覆
荧光粉胶体
模式
数值
瞬态温度变化
点胶工艺
转台控制系统
动态优化控制
指数