一种基于ATE平台的芯片测试方法

本发明提供一种基于ATE平台的芯片测试方法，涉及芯片制造与测试技术领域。该方法创新性地整合多种先进测试技术和智能算法，通过智能环境调控系统精准控制测试环境参数，协同测试引擎高效处理射频及数字信号，测试执行流利用芯片内置Loopback功能与自适应算法优化高速接口测试，智能控制与分析系统基于联邦学习框架动态调整测试流程并精准预测芯片缺陷，同时实现Chiplet互连验证以及闭环数据分析反馈优化测试程序。本发明有效提升芯片测试效率与精度，降低测试成本，减少对昂贵设备依赖，可广泛应用于各类芯片测试场景，为芯片制造企业带来显著经济效益与技术优势。