摘要
密封电子设备多余物属性识别模型的可靠性评估分析方法,属于密封电子设备多余物识别技术领域。为了解决目前并没有一种针对密封电子设备多余物属性识别模型的可靠性评估分析方法的问题。本发明将密封电子设备多余物属性识别模型在训练过程取得的最佳全局分类性能p作为初始分类性能,基于评估集得到密封电子设备多余物属性识别模型的全局分类性能退化下限和每个类别对应的局部分类性能退化下限,进而确定性能退化阈值q;根据p‑q评估模型的可靠性;本发明还将构建多余物属性识别模型的多个环节作为多个模块,通过模块失效的方式来分析各个模块对模型分类性能的影响,进而确定关键功能模块。
技术关键词
属性识别模型
密封电子设备
评估分析方法
功能模块
算法模块
分类器
特征选择
脉冲
参数
模式
位置识别
信号
基础
系统为您推荐了相关专利信息
任务调度
分层异构网络
接入节点
资源管理数据
满意度函数
光电转换模块
布线系统
光组件
卡口结构
功能模块
故障实时检测方法
字段
故障检测信号
异常信号
周期
多功能充电器
单片机电源
噪声滤波电路
谐振变换器电路
主控芯片电路