芯片测试方法、装置、测试机及存储介质

本申请提供了一种芯片测试方法、装置、测试机及存储介质，适用于芯片测试技术领域。该方法包括：基于获取的测试程序，确定针对待测器件的测试信息以及与测试信息对应的测试结果范围；基于测试信息，控制第一测试模块向待测芯片的第一管脚输出第一电信号，并控制第二测试模块向待测芯片的第二管脚输出第二电信号，获取测试结果信号；其中，第一电信号和第二电信号中，一个电信号为负值，另一个电信号为正值；基于测试结果信号和测试结果范围，确定待测芯片的测试结果。本申请实施例可以缩短芯片的测试时间，提高了测试效率。