一种微型纳米孔光电双模免校准抗干扰检测系统及方法

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推荐专利
一种微型纳米孔光电双模免校准抗干扰检测系统及方法
申请号:CN202511088634
申请日期:2025-08-05
公开号:CN120992711A
公开日期:2025-11-21
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种微型纳米孔光电双模免校准抗干扰检测系统及方法,包括:采集模块,用于同步采集光学信号和电化学信号;判断模块,用于实时计算光学信号和电化学信号的信噪比并触发抗干扰模式;互校验模块,用于在抗干扰模式下对光学信号和电化学信号进行一致性验证,获得验证结果;补偿模块,用于根据验证结果对信号进行动态补偿;融合模块,用于将补偿后的光学信号与电化学信号进行数据融合并输出检测结果。本发明通过双模校验使强干扰场景误检率降低,抗干扰能力提升;动态补偿算法替代人工校准,检测效率大大提升。
技术关键词
抗干扰模式 抗干扰检测系统 CMOS图像传感器 纳米孔芯片 信号 电化学特征 LED光源 抗干扰检测方法 校验模块 信噪比 ROI图像 校准 SPI总线 光电 滤光片 补偿算法 层叠结构 动态
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