RFID标签批量检测方法及系统

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RFID标签批量检测方法及系统
申请号:CN202511095783
申请日期:2025-08-06
公开号:CN120930662A
公开日期:2025-11-11
类型:发明专利
摘要
本发明涉及RFID标签批量检测领域,具体是一种RFID标签批量检测方法及系统,获取同一生产批次的RFID标签的生产记录信息与性能规格信息,根据所述性能规格信息对所述RFID标签进行典型工作场景与极限工作场景的分析,以得到所述RFID标签的检测场景列表,通过预先部署的批次检测算法模型根据所述生产记录信息对所述检测场景列表进行检测任务的分配,以得到该生产批次的批次检测方案,根据所述批次检测方案对该生产批次的各个RFID标签分别进行检测,以得到该生产批次的产品质量信息。
技术关键词
RFID标签 场景 算法模型 列表 批量 典型 关系 编码 分析模块 参数
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