一种基于激光反射的LED坏点检测方法、装置、设备及介质

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一种基于激光反射的LED坏点检测方法、装置、设备及介质
申请号:CN202511098130
申请日期:2025-08-06
公开号:CN120779283A
公开日期:2025-10-14
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于激光反射的LED坏点检测方法、装置、设备及介质,涉及LED灯检测技术领域,包括:控制激光光源照射待测LED灯;采集其反射光信号;对反射光信号预处理得到输入信号;基于输入信号判断LED灯是否正常。本发明采用激光反射检测替代传统光学成像,利用激光的单色性与方向性克服环境光干扰,无需暗室或复杂滤波。同时,激光光源与光电传感器的组合显著降低了系统成本,避免使用高分辨率摄像头。激光可聚焦微米级光斑,通过分析反射光信号能量变化,能高精度识别亚像素级微小结构异常。尤为重要的是,该方法通过捕捉LED物理结构的反射特性,而非依赖其发光状态,可同步检测如封装裂纹、胶体剥离等非发光性缺陷,有效提高缺陷检测准确性。
技术关键词
坏点检测方法 信号 激光光源 反射光 LED灯检测技术 克服环境光干扰 高分辨率摄像头 小波变换去噪 计算机设备 机器学习模型 光学成像 光电传感器 动态 处理器 可读存储介质 采样点 存储器 暗室
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