基于X射线图像的耐张线夹压接缺陷识别方法、装置、终端设备及存储介质

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基于X射线图像的耐张线夹压接缺陷识别方法、装置、终端设备及存储介质
申请号:CN202511103053
申请日期:2025-08-07
公开号:CN120953732A
公开日期:2025-11-14
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于X射线图像的耐张线夹压接缺陷识别方法、装置、终端设备及存储介质,属于图像识别领域。方法包括:将待识别耐张线夹的待识别射线图像输入至预设的耐张线夹缺陷识别模型中,得到耐张线夹缺陷识别结果;模型的训练包括将耐张线夹的历史射线图像样本进行缺陷类别标注,将抽样射线图像标注样本得到的图像训练样本输入至待训练的耐张线夹缺陷识别模型中进行边缘特征、空间结构特征及语义特征提取得到图像特征图;根据图像特征图进行预测得到的预测耐张线夹缺陷及射线图像标注样本,计算损失函数值,直至损失函数值收敛得到训练完成的耐张线夹缺陷识别模型。通过实施本发明,能够解决现有技术存在缺陷识别效率和准确性低的问题。
技术关键词
图像训练样本 缺陷类别 缺陷识别方法 耐张线夹 空间结构特征提取 射线 语义特征提取 生成图像特征 图像处理方式 通道注意力机制 特征提取单元 识别装置 可读存储介质 终端设备 识别模型训练 图像分割 标签
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