一种LED芯片缺陷检测方法及系统

本发明涉及光学检测技术领域，具体为一种LED芯片缺陷检测方法及系统，包括以下步骤：获取LED芯片布线区域图层，定位间距变化像素点对并划分图像块，延伸方向一致路径构建裂纹走势，补齐布线边界扩展图层，提取电极末端亮度序列筛出扰动线条，对照位置范围归纳为缺陷图像片区。本发明中，通过路径延展方向筛定裂纹走势并连通形成方向线段，增强结构延展信息的连贯性，布线边界通过图层补齐同步扩展区域覆盖，增强空间对应关系的判别精度，边界亮度检测结合镜像对照去除干扰，保留对称扰动区域作为判断依据，路径延展趋势与布线区域方向进行空间匹配，构建裂纹传播路径识别链条，提升缺陷区域追踪完整性与稳定性。