最大似然序列检测芯片的验证方法及系统

本发明提供一种最大似然序列检测芯片的验证方法及系统，该验证方法包括创建随机环境，在随机环境中创建随机模型；创建验证环境，验证环境中运行有参考模型，待测试器件运行于验证环境中；运行随机环境，由随机环境产生随机的配置信息并发送至参考模型；参考模型根据所接收到的配置信息形成测试信号，并将测试信号输入至待测试器件；参考模型按照配置信息生成参考数据并输出至检查器，待测试器件依据测试信号运行后生成运行数据并输出至检查器，检查器对比参考数据与运行数据并生成验证结果。本发明还提供实现上述方法的验证系统。本发明能够实现配置信息的生成与验证环境的解耦，提高芯片验证的准确性。