测试模式控制电路、方法及芯片

本申请属于芯片测试领域，提供了一种测试模式控制电路、方法及芯片。电路包括数据时钟鉴宽模块、数据时序产生模块和测试控制模块，数据时序产生模块分别与数据时钟鉴宽模块和测试控制模块连接。数据时钟鉴宽模块通过芯片的一个输入输出引脚接收测试模式数据和时钟单线信号，对测试模式数据和时钟单线信号进行处理，得到第一信号；数据时序产生模块通过芯片的一个输入输出引脚接收测试模式数据和时钟单线信号，根据测试模式数据和时钟单线信号对第一信号进行处理，得到第二信号；测试控制模块对第二信号进行检测，若第二信号与预设信号匹配，表征芯片进入测试模式。本申请通过单线传输技术，仅复用芯片的一个输入输出引脚便可使芯片进入测试模式。