芯片老化测试系统

本公开提供了一种芯片老化测试系统，通过在控制电路和加热电路之间设置信号隔离电路，利用信号隔离电路中的第一光电耦合器将控制电路输出的第一控制信号转换为第一光信号，再将第一光信号转换为第二控制信号输出至加热电路，控制加热开关通断达到相应的加热功率，实现了控制电路与加热电路之间的电信号隔离，同时控制电路通过第一接地线路接地，加热电路通过第二接地线路接地，使得加热电路和控制电路的接地线路相互独立、互不干扰，在加热功率较高、加热电路输出信号的电流较大的情况下，可以降低加热电路输出信号所产生的噪声对控制电路的干扰，从而提高芯片老化测试的准确性。