一种MOSFET失配参数自动提取方法及存储介质

本发明涉及一种MOSFET失配参数自动提取方法，属于集成电路器件仿真技术领域，包括：统一模型卡中的失配参数表达式，建立失配模型方程；确定器件模型尺寸数列；按器件模型面积顺序排列，获得器件尺寸数组序列；设置失配参数数组顺序及各失配参数数组所包含的失配参数；按所述尺寸数组序列的顺序，及所述失配参数数组顺序，采用全局优化仿真迭代算法，提取失配参数最终值。本发明通过调整失配参数使得损失函数最小化，从而求解出全局最优解，提取得到最优的失配参数，采用全局优化方法提升了收敛效率，降低了运算开销。