一种域控芯片计算性能自动化测试方法和平台系统

本发明涉及车用芯片测试技术领域，公开了一种域控芯片计算性能自动化测试方法和平台系统，所述平台系统包括：待测域控芯片系统，用于执行预设计算任务并输出实时性能数据；数据连接系统，包含功率分析仪及协议分析仪，用于采集电气参数与通信负载数据；自动化平台系统，用于动态调度测试用例、汇聚多源数据并触发异常保护机制；测试上位机系统，用于配置测试策略并生成可视化报告，支持历史数据比对与性能趋势分析；所述待测域控芯片系统、数据连接系统、自动化平台系统和测试上位机系统通过物理或通信链路互联，形成闭环测试架构。本发明能够实现全栈闭环的自动化测试，且测试指标全面、测试结果可靠、测试效率较高。