一种基于三维点云的IC板翘曲度与曲面槽检测方法

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正文
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一种基于三维点云的IC板翘曲度与曲面槽检测方法
申请号:CN202511127094
申请日期:2025-08-13
公开号:CN120970516A
公开日期:2025-11-18
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于三维点云的IC板翘曲度与曲面槽检测方法,包括以下步骤:S1、通过三维成像设备采集IC板表面点云数据,并进行噪声滤波、重采样和姿态归一化预处理;S2、自动提取IC板表面分布的9个关键点,基于关键点坐标通过曲面拟合算法生成基准面,计算各关键点相对基准面的高度偏移值。本发明通过在IC Board表面选取9个关键点,结合三维点云的曲面拟合技术,生成全局参考曲面,有效避免因局部高度异常或测量噪声带来的误差。通过中心点与边缘点高度差的多维度分析,翘曲度的量化更全面,测量结果更加稳定可靠,相较于传统单点或线性测量方法具有更高的精度与鲁棒性。
技术关键词
槽检测方法 关键点 三维成像设备 IC板 姿态归一化 曲面 基准面 线性测量方法 噪声滤波 拟合算法 像素 分段技术 偏差 离群点 点云 槽结构 多尺度 鲁棒性 坐标 曲线
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