一种基于多参数协同分析的IGBT模块性能测试方法

AITNT
正文
推荐专利
一种基于多参数协同分析的IGBT模块性能测试方法
申请号:CN202511129919
申请日期:2025-08-13
公开号:CN120800492A
公开日期:2025-10-17
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种基于多参数协同分析的IGBT模块性能测试方法,包括:S1:采集IGBT模块的测试数据,测试数据包括电气参数集、热参数集及震动参数集;S2:基于电气参数集、热参数集与震动参数集的参数关联关系,执行协同特征提取操作生成联合特征向量;S3:利用特征映射算法处理联合特征向量,输出包含开关损耗率、结温上升斜率及震动功率谱密度的性能分析结果;S4:将性能分析结果与预设性能标准库中的参数阈值进行比对,判定IGBT模块性能等级并生成测试报告。实现了IGBT模块在复杂工况下的全面性能评估与客观等级判定,显著提高了测试精度和可靠性预测能力。
技术关键词
模块性能测试方法 多参数 IGBT模块 优化采样频率 电气特征 能量分布特征 结温 生成测试报告 校准 映射算法 执行故障诊断 矩阵 加速度 性能测试系统 特征值 曲线斜率 密度 散热基板
添加客服微信openai178,进AITNT官方交流群
驱动智慧未来:提供一站式AI转型解决方案
沪ICP备2023015588号