功耗测试与数据分析方法、装置以及电子设备

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推荐专利
功耗测试与数据分析方法、装置以及电子设备
申请号:CN202511133936
申请日期:2025-08-14
公开号:CN120636506B
公开日期:2026-01-02
类型:发明专利
摘要
本发明公开了功耗测试与数据分析方法、装置以及电子设备,创建与存储设备的不同运行状态一一对应的数据采集阶段,为每个数据采集阶段设置对应的类别标识;获取存储设备在每个数据采集阶段下的功耗测试数据,为每个功耗测试数据绑定对应的类别标识;结合类别标识,通过聚类算法对所有功耗测试数据进行分类,得到分类结果;结合分类结果,分析存储设备在每个数据采集阶段下的功耗表现结果。本发明在和存储设备的运行状态相对应的每个数据采集阶段引入类别标识,将类别标识作为采集的每个功耗测试数据附带的分类信息,而后在利用聚类算法对数据进行聚类分析时,借助类别标识更快速且准确地判定功耗测试数据的最终分类,保障后续数据分析的可靠性。
技术关键词
数据分析方法 功耗 阶段 标识 聚类算法 分析存储设备 后续数据分析 数据分析装置 电子设备 模块通信 处理器 分析模块 存储器 逻辑 数值 场景
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