一种耐辐照绝对式光电编码器位置精度补偿方法

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一种耐辐照绝对式光电编码器位置精度补偿方法
申请号:CN202511136468
申请日期:2025-08-14
公开号:CN120740657A
公开日期:2025-10-03
类型:发明专利
摘要
本发明公开了一种耐辐照绝对式光电编码器位置精度补偿方法,主要包括双传感卡尔曼滤波方法与Double Deep Q‑Network强化学习方法。光电编码器的双传感模块的可以在辐射损伤导致主传感损坏后启动副传感,提高编码器整体抗辐射性能。本发明将副传感获得的位置数据作为双传感卡尔曼滤波方法中状态估计方程的参数,用来补偿主传感在辐射损伤中出现的位置误差,DDQN强化学习方法优化卡尔曼滤波算法中的超参数。本发明提出的一种耐辐照绝对式光电编码器位置精度补偿方法,可以提高绝对式光电编码器耐辐照能力,补偿辐射损伤造成的精度下降,解决了从主传感切换副传感时出现的位置丢失问题。
技术关键词
光电编码器位置 精度补偿方法 双传感 优化卡尔曼滤波 传感模块 卡尔曼滤波方法 强化学习方法 传感器 补偿算法 参数 网络 位置更新 开关电路 外部设备 数值
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