IGBT器件评估模型的构建方法、寿命评估方法及装置

本发明公开了一种IGBT器件评估模型的构建方法、寿命评估方法及装置，属于模型处理的领域，所述方法为：获取IGBT器件的多张待处理图像和每张待处理图像对应的功率循环次数，每张待处理图像是IGBT器件在不同功率循环次数下的焊接层的空洞图像；从每张待处理图像提取图像特征参数以及对每个功率循环次数进行标准化处理得到标准化次数；利用图像特征参数和标准化次数对预设的神经网络进行模型训练，得到IGBT器件评估模型。本发明通过不同功率循环次数下的焊接层的空洞图像和功率循环次数进行模型训练，使模型可以贴合IGBT器件的实际焊接情况，提升模型的评估精度，以解决现有技术构建的模型评估偏差较大，评估精度低的技术问题。