基于量子效率衰减模型的单光子探测器加速寿命试验装置

本发明涉及单光子探测器性能测试技术领域，公开了一种基于量子效率衰减模型的单光子探测器加速寿命试验装置，包括多变量控制模块、量子效率监测模块及数据处理模块：多变量控制模块调节单光子探测器的工作参数至覆盖实际工作条件极值范围的预设加速应力参数；量子效率监测模块向单光子探测器发射标准光信号，实时测量其量子效率衰减数据；数据处理模块基于量子效率衰减数据与工作参数的对应关系构建量子效率衰减模型，并通过该模型外推单光子探测器在实际工作条件下的使用寿命。本发明解决了传统试验装置应力控制单一、核心性能监测缺失、寿命外推误差大的问题，实现了单光子探测器加速寿命试验的场景真实性、数据精准性与寿命评估可靠性。