芯片功能安全设计自动化验证方法、装置、设备及介质

本发明公开了一种芯片功能安全设计自动化验证方法、装置、设备及介质，涉及芯片设计技术领域，该方法包括读取插错仿真需求表得到仿真测试用例并运行，产生FIT仿真所需的激励，并基于仿真测试用例运行情况剔除异常仿真测试用例；检测FIT仿真环境文件，并进行FIT仿真验证环境的生成、FIT仿真流程的制定以及根据FIT仿真类型匹配所需激励；执行FIT仿真，基于FIT仿真结果生成FIT仿真结果报告或者调整FIT仿真过程再次执行FIT仿真。本申请通过制定标准化、可量化、可统计、高效定位的插错仿真流程，可以有效减少人工工作量，提升工作效率，避免错误发生。