一种基于FPGA的光储设备状态监控方法及系统

本发明涉及状态监控技术领域，尤其涉及一种基于FPGA的光储设备状态监控方法及系统。所述方法包括以下步骤：获取FPGA结构数据；基于FPGA结构数据在FPGA空闲逻辑资源区域部署环振荡器单元，并在FPGA可编程I/O引脚上配置漏电流测量通道，以得到漏电流测量通道配置数据；根据漏电流测量通道配置数据采集RO振荡频率数据及栅极漏电流数据；基于预设的温度标定曲线和电压标定曲线分别对RO振荡频率数据及栅极漏电流数据映射解算。本发明通过基于FPGA的高精度实时监测与多元回归建模，有效提升了光储设备关键区域温度与应力的诊断精度和智能预警能力，解决了传统监测系统的准确性、实时性及针对性不足问题。