摘要
本发明涉及材料抛光技术领域,公开了一种基于多工艺协同的PEEK材料复合抛光方法及系统,该方法包括:对PEEK材料进行表面检测,得到结晶度梯度分布信息;根据所述结晶度梯度分布信息对结晶区域和非晶区域分别进行工艺参数计算,得到抛光工艺参数组合;将所述抛光工艺参数组合输入多工艺协同复合抛光设备,对所述PEEK材料进行梯度界面强化抛光,得到界面强化抛光半成品;对所述界面强化抛光半成品进行工艺参数动态调节,得到界面强化抛光成品,本发明实现了对PEEK材料结晶区域和非晶区域的精准划分和差异化工艺参数计算,提高了PEEK材料复合抛光的精度。
技术关键词
复合抛光方法
PEEK材料
工艺参数动态
抛光工艺
数据
界面特征
半成品
抛光设备
遗传算法
化学抛光
取向
机械抛光
材料抛光技术
X射线光电子能谱
结晶
偏差
分子