一种集成电路芯片测试设备

本发明涉及芯片检测技术领域，具体为一种集成电路芯片测试设备，包括工作台，工作台的上端开设有放置槽，放置槽内设置有芯片本体，通过产热机构和阶梯式热传导机构对芯片本体进行阶梯式的加热，检测芯片本体在不同温度下的性能表现，通过上述设计可以将探针引脚检测、通电检测和温度检测相结合，且本装置的使用极为便捷，只需单个工作人员进行便捷的操作即可完成，不仅可以减少芯片本体检测所需的成本，还可以提高芯片本体检测效率，缩短其所需的时间。